Perfilador de Distancia 3D — Mapas de Profundidad para Análisis de Superficies
Sistema de perfilado de profundidad RGB-D para analizar superficies de muestras minerales. Crea reconstrucciones 3D mediante modelo de cámara pinhole con filtrado bilateral, estimación de normales, cálculo de curvatura y métricas de rugosidad ISO 4287.
Contexto de Negocio
Caracterizar la topografía superficial de muestras minerales tradicionalmente requiere equipamiento de perfilometría de contacto costoso. Las cámaras de profundidad RGB-D proveen una alternativa accesible, pero los datos brutos de profundidad son ruidosos, distorsionados y sin significado sin un pipeline de procesamiento que transforme esos píxeles en mediciones de ingeniería estandarizadas comparables a instrumentos de laboratorio.
Valor Estratégico
El sistema implementa un pipeline completo de análisis de superficie: filtrado bilateral preservando bordes, reconstrucción 3D con modelo de cámara pinhole, cálculo de geometría diferencial (normales de superficie, curvatura Gaussiana y media), extracción de perfiles en trayectorias arbitrarias, y métricas de rugosidad ISO 4287 (Ra, Rq, Rz, Rsk, Rku). Cinco generadores de escenas sintéticas permiten validación. Exportación a formatos PLY/PCD/OBJ permite integración con herramientas externas de CAD y análisis. Parte del trío de caracterización mineral ALGES junto con Clasificación HSI y GrainSight.
El Desafío
Caracterizar la topografía superficial de muestras minerales requiere equipamiento de laboratorio costoso. Las cámaras de profundidad proveen alternativas accesibles pero los datos brutos de profundidad necesitan procesamiento sofisticado para análisis de superficies significativo — eliminación de ruido, reconstrucción 3D y métricas de rugosidad estandarizadas.
Nuestro Enfoque
Pipeline completo: entrada RGB-D sintética o real, preprocesamiento con filtrado bilateral, reconstrucción 3D vía modelo de cámara pinhole, análisis de superficie (estimación de normales, cálculo de curvatura), extracción de perfiles a lo largo de trayectorias arbitrarias, y métricas de rugosidad ISO 4287 (Ra, Rq, Rz). Exporta a formatos PLY/PCD/OBJ.
Indicadores Clave de Rendimiento
| KPI | Línea Base | Resultado | Impacto |
|---|---|---|---|
| Análisis de Superficie | Perfilometría de contacto | Perfilado de profundidad 3D sin contacto | Caracterización superficial accesible |
| Métricas de Rugosidad | Medición manual | ISO 4287 automatizado (Ra, Rq, Rz) | Evaluación estandarizada de calidad superficial |
Arquitectura
depth profiler arch
depth profiler pipeline
Stack Tecnológico
Capturas de la Aplicación
